DIATEST塞規式測量頭通過校對環規校準及導向體結構優化,明顯降低了軸向和徑向誤差,尤其適用于精密加工領域的質量控制;無需復雜調整即可快速完成測量任務,且支持多種規格的附件擴展,適應不同深度、形狀的盲孔或通孔需求;彈性體提供的恒定測力有效規避了人為因素對結果的影響,而導向設計則減少了因傾斜或偏移導致的誤判風險。
DIATEST塞規式測量頭的使用注意事項:
1.檢查端面狀況:在使用塞規前,務必仔細檢查其端面是否光滑,查看有無毛刺、銹跡等可能影響使用效果的因素。若存在這些問題,可能會導致測量誤差增大或者損壞被測物體。
2.控制溫度差異:應盡量減小塞規與測量物之間的溫度差異,因為溫度變化會引起物體熱脹冷縮,從而影響測量結果的準確性。在實際操作中,可讓塞規和被測物在同一環境中放置一段時間以達到熱平衡。
3.清潔工件表面:建議使用無塵布將工件表面擦拭干凈,避免雜質附著在工件上而對測量結果產生影響。雜質可能會使塞規無法正常插入或導致測量數據不準確。
4.避免用力過猛:像電子塞規中的針規使用時一樣,不要用過大的力量插入塞規,以防損壞塞規本身或導致測量數據不準確。正確的操作是垂直且輕輕地將塞規插入被測孔內。
5.考慮測量環境:測量環境對儀器的選擇也有影響。如果在特殊環境下工作,如高溫或多塵環境,可能需要選用特定材質或防護等級更高的測量頭,以確保測量的穩定性和準確性。
6.關注塞規公差:數據分析顯示,塞規公差與產品合格率直接相關,一般塞規公差大于0.003mm可保證較高的合格率。在選擇和使用塞規時,要留意其公差范圍是否符合要求。